在常規測試中，通常與兆歐表一樣使用直流（DC）電壓。但是，使用絕緣電阻儀（又稱(chēng)絕緣電阻測試儀）進(jìn)行連續監視通常會(huì )使用某種形式的交流（AC）波形。這是因為直流測量容易受到噪聲或雜散電流的干擾。

　　當電壓E施加在金屬導體和大地之間，電流流過(guò)電纜絕緣層。這稱(chēng)為泄漏電流。但是，IR測試儀測得的電流是包括電容和吸收電流在內的總電流。電容性電流與電容器的充電有關(guān)。電容器由被導電材料（絕緣體）隔開(kāi)的兩種導電介質(zhì)組成，例如浸在海水中的絕緣銅電纜。在由絕緣體隔開(kāi)的兩個(gè)導體之間施加直流電壓時(shí)，會(huì )在面對的導體表面上形成相等且相反的電荷。另一方面，電介質(zhì)產(chǎn)生電場(chǎng)，電介質(zhì)中的分子偶極與該電場(chǎng)對準。電荷載流子往返導體表面的這種運動(dòng)會(huì )產(chǎn)生電容性泄漏電流。由于電場(chǎng)的存在，吸收電流源于絕緣子內偶極子的運動(dòng)。

 

　　那么，電容性電流和吸收性電流如何影響IR測試？在直流電壓IR測試開(kāi)始時(shí)，會(huì )出現電容，吸收和泄漏電流。電容電流在開(kāi)始時(shí)占主導地位，通常比泄漏電流和吸收電流大得多。隨著(zhù)時(shí)間的流逝，電容和吸收電流將消散，這取決于材料存儲電荷的能力（絕緣子的效率更高）。與吸收電流（與絕緣體相關(guān)）相比，電容電流（與導體相關(guān)）耗散迅速。因此，電流的減小導致在IR測試期間IR的持續增加。但是，大多數絕緣測試方法都將這些影響考慮在內。